簡(jiǎn)要描述:SUNX神視超小型激光傳感器國(guó)內(nèi)銷售安全使用PANASONIC傳感器注意事項(xiàng):1.關(guān)于降額設(shè)計(jì)2.關(guān)于施加超過(guò)Z大額定值3.關(guān)于輸入電壓(功率電壓驅(qū)動(dòng)型)4.關(guān)于振蕩電路及控制電路(TSON)5.關(guān)于靜電放電引起的劣化、破壞(TSON/RF C×R3/C×R5/C×R10)6關(guān)于未使用端子7.關(guān)于端子間的短路8.關(guān)于輸入端浪涌電壓
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SUNX神視超小型激光傳感器國(guó)內(nèi)銷售
產(chǎn)品數(shù)據(jù)資料
放大器內(nèi)置·超小型激光傳感器 EX-L200 系列 在此機(jī)體中放大器內(nèi)置嗎? 在此機(jī)體中放大器內(nèi)置嗎? 超小型 通過(guò)改進(jìn)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),采用專門(mén)設(shè)計(jì)的定制IC,大幅縮小了機(jī)身體 積。與通用光電傳感器相比,其體積品縮小了約67%(透過(guò)型)和約 58%(反射型)。也因此,原本屬于原有超小型光電傳感器范疇的小 型機(jī)身型中如今多了一款放大器內(nèi)置型激光傳感器。
通用光電傳感器
進(jìn)深 12 mm W8.2mm×H23.4mm×D12mm (透過(guò)型) 檢測(cè)精度高 EX-L211 / L221 適用于執(zhí)行定位操作和微小物體檢測(cè) 檢測(cè)距離在100mm~200mm范圍內(nèi)時(shí)的重復(fù)精度為0.02mm以下, 使之于執(zhí)行定位(EX-L221)。此外,的檢測(cè)精度亦在采 用φ0.01mm金線的小巧型激光傳感器系列中顯露無(wú)遺。
超細(xì)管*檢測(cè)
型號(hào) (微小物體檢測(cè)型)
zui小檢測(cè)物體 (典型值)
SUNX神視超小型激光傳感器國(guó)內(nèi)銷售
重復(fù)精度 (典型值) EX-L211(透過(guò)型) φ0.3 mm 0.01 mm 以下 EX-L221(反射型) φ0.01 mm 0.02 mm 以下 靈敏度調(diào)節(jié)器 EX-L211 / L221 / L291 / L26□ 備有上zui小的靈敏度調(diào)節(jié)器,確保微小物體檢測(cè)或高精度物體檢 測(cè)時(shí)的。
項(xiàng)目 型號(hào) EX-L211(-P) EX-L212(-P) EX-L291(-P) EX-L221(-P) EX-L261(-P) EX-L262(-P) 檢測(cè)距離 1m 3m 4m(注1) 45mm~300mm(使用100mm×100mm白色無(wú)光澤紙張) 20mm~50mm(:22mm) 20mm~70mm(:22mm) 光點(diǎn)尺寸(代表示例) 6mm×4mm(縱×橫) (距離約為1m時(shí)) 8mm×5.5mm(縱×橫) (距離約為1m時(shí)) 6mm×4mm(縱×橫) (距離約為1m時(shí)) φ1mm以下 (距離為300mm時(shí)) φ1mm以下 (距離為50mm時(shí)) 約1mm×5mm (距離為50mm時(shí)) 檢測(cè)物體 φ2mm以上的不透明體 φ3mm以上的不透明體 φ2.5mm以上的不透明體或半透明體 不透明體、半透明體或透明體 zui小檢測(cè)物體(代表示例) φ0.3m的不透明體 φ0.01mm的金線 —— 重復(fù)精度 垂直于檢測(cè)軸:0.05mm以下 垂直于檢測(cè)軸:0.2mm以下 電源電壓 12V DC~24V DC ±10% 輸出 NPN開(kāi)路集電晶體管或PNP開(kāi)路集電晶體管 反應(yīng)時(shí)間 0.5ms以下 防干擾功能 裝備(可緊貼安裝2臺(tái)傳感器) —— 使用環(huán)境溫度 -10℃ ~ +55℃ 投光元件 紅色半導(dǎo)體激光 1(IEC/JIS/FDA)(zui大輸出(EX-L211/212□ 390μW, EX-L291□ 0.5 mW, EX-L221□ 2mW、投光波峰波長(zhǎng):655nm) 尺寸 W8.2mm×H23.4mm×D12mm W8.2mm×H27.4mm×D13mm W8.2mm×H27.4mm×D13.5mm (注1):檢測(cè)距離指的是反射鏡RF-330(附件)的數(shù)值。檢測(cè)距離表示的是傳感器的實(shí)際檢測(cè)距離。下表中“A”項(xiàng)表示的檢測(cè)距離因檢測(cè)物體的形態(tài)不同而異。請(qǐng)務(wù)必檢查實(shí)際檢測(cè)物體的工作情況。